索特拉科技申请用于材料分类的校正技术专利, 校正光谱后分拣材料

发布日期：2025-06-25 02:50    点击次数：90

金融界2025年6月16日消息，国家知识产权局信息显示，索特拉科技有限公司申请一项名为“用于材料分类的校正技术”的专利，公开号CN120153250A，申请日期为2023年10月。

专利摘要显示，当将x射线荧光(“XRF”)光谱用于对在移动的传送带上运输的材料进行分类时，存在x射线束仅部分地照射材料件的可能性，这可以导致捕获对材料件进行分类所需的不准确的XRF光谱。这可以导致对材料件(例如铝合金)的不适当(错误)分类和最终分拣。在材料处理系统中，测量来自x射线荧光系统的x射线束斑与材料件之间的相交面积，并相应地用于校正与每个材料件相关联的测得的XRF光谱。然后可以根据经校正的XRF光谱对材料件进行分拣。

本文源自：金融界